CMOS-Doppel-4 Eingangs-NAND-Gate, 3 ... 15 V, DIP-14

CMOS-Doppel-4 Eingangs-NAND-Gate

Beschreibung
Die NAND-Gatter CD4011B, CD4012B und CD4023B bieten dem Systementwickler eine direkte Implementierung der NAND-Funktion und ergänzen die bestehende Familie der CMOS-Gatter. Alle Ein- und Ausgänge sind gepuffert.
Die Typen CD4011B, CD4012B und CD4023B werden in 14-poligen Dual-in-Line-Kunststoffgehäusen (Suffix E) und 14-poligen Small-Outline-Gehäusen (Suffixe M, MT, M96 und NSR) geliefert.

Merkmale
- Ausbreitungsverzögerungszeit = 60 ns (typ.) bei CL = 50 pF, VDD = 10 V
- Gepufferte Ein- und Ausgänge
- Standardisierte symmetrische Ausgangskennlinien
- Maximaler Eingangsstrom von 1 µA bei 18 V über den vollen Gehäusetemperaturbereich; 100 nA bei 18 V und 25°C
- 100% geprüft auf Ruhestrom bei 20 V
- Parametrische Nennwerte von 5 V, 10 V und 15 V
- Rauschabstand (über den gesamten Pakettemperaturbereich:
- 1 V bei VDD = 5 V
- 2 V bei VDD = 10 V
- 2,5 bei VDD = 15 V
- Erfüllt alle Anforderungen des JEDEC-Tentativstandards Nr. 13B, "Standardspezifikationen zur Beschreibung von CMOS-Bausteinen der Serie "B""".
- Vierfach-2-Eingangs-CD4011B
- Dual 4 Eingang-CD4012B
- Dreifach-3-Eingangs-CD4023B